MOSメモリ |
0.58 |
シリコン・トランジスタ |
0.011 |
コンデンサ |
0.01 |
抵抗 |
0.0034 |
これに対して基板の故障率の算出結果を示すと、以下のようになります。
基板故障率 0.1〜1(1000ピン)
品質ファクタ1は、G−10以上でスクリーニングやバーン・インが必要としています。とにかく1000ピンの基板の故障率はメモリ1〜2個分です。
MILで定めた基板の故障率の算出方法はコネクタなどに比べれば簡単です。これはたぶん、基板の信頼性はその当時さほど問題にならなかったのでしょう。
さらに実際の実務で考えると市場における基板不良として、発熱部品による熱ストレスが加わりパッドがはげたり、湿気の混入で銅マイグレーションが発生し基板のパターンがショートしたり、基板外の負荷のショートで過大電流が流れて基板が焦げたりするのは良くあることです。
しかしながら、出荷時は正確につながっていたパターンが、市場で突然切れたりするような基板自体に起因する不具合は市場ではあまり見かけません。
たしかに基板はテレビやパソコンや車や飛行機に何億枚と使われています。これに大きな問題があれば世の中は成立しません。
初期に不良が多いのは、スクリーニング効果が高いと考えれば良いでしょう。
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